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电子测试

集成电路（IC）测试

📖 标准：JESD22 / AEC-Q100 🏷️ 分类：芯片验证 🧠 功能+参数

01 概述

IC 测试在自动测试设备（ATE）上完成功能测试、直流/交流参数测试，并通过 burn-in 老化与车规认证（AEC-Q100）评估长期可靠性，是芯片量产良率与质量的核心保障。

02 试验布置图

IC + ATE功能参数老化
图：IC 在 ATE 上完成功能、参数与老化测试。

03 依据标准

标准号名称适用范围
JESD22IC 可靠性应力国际
AEC-Q100车规 IC 认证国际

04 测试条件

参数要求
项目功能/DC/AC
老化burn-in

05 测试步骤

步骤 1上机
  1. 程序加载测试向量。
  2. 接触探卡对接。
步骤 2测试
  1. 功能逻辑校验。
  2. 参数测 DC/AC。
步骤 3筛选
  1. 老化高温加电。
  2. 良率统计。

06 测试设备

ATE

自动测试设备。

08 常见失效与整改

常见失效整改措施
良率低查工艺/版图。

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