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电子测试

元器件测试

📖 标准：MIL-STD-883 / GB/T 4589 🏷️ 分类：元件验证 🧩 参数+可靠

01 概述

元器件测试测量电阻、电容、电感、二极管、继电器等的基础电气参数，并通过环境应力筛选（ESS）、老化与高低温试验评估可靠性，结合失效分析定位批次质量风险。

02 试验布置图

元件测试仪温箱
图：元件经参数测试仪与温箱进行参数测量与应力筛选。

03 依据标准

标准号名称适用范围
MIL-STD-883微电子试验方法美国
GB/T 4589半导体器件试验中国

04 测试条件

参数要求
参数标称/容差
应力高低温/老化

05 测试步骤

步骤 1测量
  1. 参数LCR/源表。
  2. 比对查规格。
步骤 2筛选
  1. ESS温循/老化。
  2. 分析失效定位。
步骤 3判定
  1. 合格批次接收。

06 测试设备

LCR/源表

参数测试。

环境试验箱

应力筛选。

08 常见失效与整改

常见失效整改措施
批次超差退料+FA。

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